雙探頭紫外輻照計

更新時間：2025-10-15

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廠商性質：代理商

生產地址：北京

簡要描述：

UV-B型雙探頭紫外輻照計適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。波長范圍λ1，峰值波長λp：（230～275）nm，λP＝254nm。波長范圍λ2，峰值波長λp：（275～330）nm，λP＝297nm。

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產品介紹

UV-B型雙探頭紫外輻照計
產品概述
紫外輻照計已取得制造計量器具許可證和計量器具型式批準證書。
紫外輻照計執(zhí)行企業(yè)標準Q/HDSDY0003－2014。
UV-B型紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

UV-B型雙探頭紫外輻照計的特點
光譜及角度特性經嚴格校正
數(shù)字液晶顯示，帶背光
手動/自動量程切換
數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
低電量提醒
自動延時關機
有數(shù)字保持
輕觸按鍵操作，蜂鳴提示

UV-B型的技術規(guī)格：

項目	參數(shù)
波長范圍λ1，峰值波長λp	（230～275）nm，λ_P＝254nm
波長范圍λ2，峰值波長λp	（275～330）nm，λ_P＝297nm
輻照度測量范圍	(0.1～199.9×10³) μW/cm²
紫外帶外區(qū)雜光	UV254<0.1%，UV297<0.05%
相對示值誤差	±8％（相對于NIM標準）
角度響應特性	±5% （α≤10°）
線性誤差	±1%
換檔誤差	±1%
短期不穩(wěn)定性	±1%（開機30min后）
疲勞特性	衰減量<2%
零值誤差	滿量程的±1%
響應時間	<1秒
使用環(huán)境	溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH
尺寸和重量	160mm×78mm×43mm；0.2kg
電源	6F22型9V積層電池（非充電電池）
整機功耗	＜0.1VA